Анализатор следов элементов высокоточный рентгеновский спектрометр SUPER XRF 2400

Анализатор следов элементов высокоточный рентгеновский спектрометр SUPER XRF 2400

Специальная оптическая схема с использованием вторично отраженных фотоэлектронов улушает сиоотношение сигнал-шум, позволяет добиваться более низких пределов обнаружения, что делает возможным анализ следовых элементов. Специализированная система охлаждения делает инструмент более надежным а результаты более воспроизводимыми. Вакуумная система делает возможным точный анализ легких элементов: Na, Mg, Al, Si, P

 

Эксплуатационные характеристики

• Специальная схема оптического пути с использованием меняющихся первичных мишеней
• Оригинальная система оптического пути удовлетворяет требованиям тестирование различных микроэлементов в матрице, усиливает сигнал/шума и уменьшает пределы обнаружения
• 400Вт источник питания рентгеновской трубки позволяет добиваться более высокой скорости счета возбужденных фотоэлектронов. Пределы обнаружения на один уровень ниже, чем при общем EDXRF анализаторах, и больше подходит для тестирования микроэлементов
• Цифровые многоканальные технологии улучшают скорости счета до 100kcps, улучшая точность тестирования и уменьшая время тестирования
• Система охлаждения масла обеспечивает охлаждение рентгеновского источника, что делает прибор более устойчивым
• Оптический затвор используется при частых открываниях/закрываниях источника питания рентгеновской трубки и системы высокого давления, что влияет в свою очередь на стабильность тестов. Оснащенный оптическим затвором, спектрометр сохраняет высокое напряженя, повышая стабильность прибора
• Вакуумная система для тестирования легких элементов
• Автоматическая система отбора проб позволяет проводить последовательный анализ 12 образцов, каждый раз, значительно увеличивая эффективность работы

Технические характеристики

• Диапазон измеряемых элементов: от Na до U
• Множественные переключаемые режимы анализа: обычный РФА и анализ на вторичных фотоэлектронах
• Диапазон содержания: 0.1ppm до 99,99%
• Нижний предел обнаружения: 0.1 ppm
• Спектрометр значительно улучшает пределы обнаружения опасных элементов по сравнению с обычным настольным спектрометром РФА.
• Повторяемость: 0,1%
• Стабильность: 0,1%
• Температура окружающей среды: 15 до 30 C
• Питание: AC 220V ± 5V. AC.
• Размеры: 752 х 988 х 759 мм

Стандартная конфигурация

• Источник рентгеновского излучения, две системы возбуждения образца
• Рентгеновская камера Varian с мощностью 400Вт и масляной системой охлаждения
• Автоматический переключатель коллиматоров и фильтров
• Камера для образцов с камерой
• HD CCD камера с высоким разрешением
• UHRD крмениевый детектор (SDD)
• Автоматическая турель для образцов на 12 позиций
• Источник высоковольтного напряжения
• Профессиональное РФА программное обеспечение

Область применения

• Анализ микро-элементов в металлургической промышленности, анализ следов опасных элементов в металлах
• Экологический анализ следов тяжелых металлов почве, воздухе, воде и других средах
• Анализ следов элементов тяжелых металлов в полимерных пленках готового продукта производства
• Анализ вредных человеческому телу элементов в промышленности драгоценных металлов
• Анализ следов редкоземельных металлов
• Анализ толщины суб-нанометровых напылений в промышленности металлических покрытий
• Анализ следов вредных элементов в различных товарах народного потребления, а также игрушках
• Лабораторные исследования
• Экологический мониторинг
• Аналитический контроль
• Специализированный контроль качества
• Химия
• Горно-рудная промышленность
• Промышленность строительных материалов
• Контроль производства цемента
• Металлургия
• Электроника
• Пищевая промышленность